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dc.contributor.authorAzzi, Nadia
dc.date.accessioned2017-11-22T09:58:45Z
dc.date.available2017-11-22T09:58:45Z
dc.date.issued2017-07-04
dc.identifier.citationOption : Entrainement Electriqueen
dc.identifier.otherMAG.ETH.01-17
dc.identifier.urihttps://www.ummto.dz/dspace/handle/ummto/1551
dc.description59 p. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)en
dc.description.abstractLe présent travail traite l’étude de l’effet du vieillissement thermique sur la rigidité diélectrique du polyméthacrylate de méthyle, connu sous son nom commercial le Plexiglas. Des populations d’échantillons ont été soumises à un vieillissement thermique sous différentes températures, à savoir : 80°C, 90°C et 100°C. Des prélèvements ont été effectués toutes les mille heures pour les températures 80°C et 90°C, alors que pour la température 100°C, ceux-ci ont été réalisés toutes les cinq cents heures. Des essais de claquage électrique ont été réalisés, par la suite, sur les différents échantillons. Une analyse statistique des résultats obtenus a été effectuée en utilisant le modèle de WEIBULL à 2 paramètres. La courbe donnant l’évolution de la rigidité diélectrique du matériau en fonction du temps de vieillissement ainsi que celle donnant le coefficient de forme en fonction du temps de vieillissement pour les différentes températures de vieillissement, ont été déduites.en
dc.language.isofren
dc.publisherUniversité Mouloud Mammerien
dc.subjectStatistique de WEIBULL.en
dc.subjectRigidité diélectriqueen
dc.subjectEndurance thermiqueen
dc.subjectPolyméthacrylate de méthyleen
dc.titleEffet du vieillissement thermique sur la rigidité diélectrique du polyméthacrylate de méthyleen
dc.typeThesisen


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