Titre :	Analyse structurale et chimique des matériaux
Type de document :	texte imprime
Auteurs :	Jean Pierre Eberhart, Auteur
Mention d'édition :	[Nouvelle édition]
Editeur :	Paris : Dunod
Année de publication :	1997
Importance :	(IV-614 p.)
Présentation :	ill., couv. ill. en coul.
Format :	24 cm.
ISBN/ISSN/EAN :	978-2-10-003367-6
Note générale :	La couv. porte en plus : "2e cycle, écoles d'ingénieurs". - Autre tirage : 2001 Bibliogr. p. 597-603. Index
Langues :	Français
Catégories :	Chimie
Mots-clés :	Matériaux:effets des rayonnements  Matériaux:analyse  Spectroscopie  Matériaux:structure  Surfaces(technologie):analyse  Microscopie électronique:technique
Index. décimale :	543 Analyse chimique
Résumé :	Traite de l'utilisation de rayonnements particulièrement adaptés pour déterminer la structure et la composition des matériaux : rayons X, électrons, neutrons thermiques et ions.
Permalink :	./index.php?lvl=notice_display&id=10381

Analyse structurale et chimique des matériaux [texte imprime] / Jean Pierre Eberhart, Auteur  . -  [Nouvelle édition] . - Paris : Dunod, 1997 . - (IV-614 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 24 cm.
ISBN : 978-2-10-003367-6

La couv. porte en plus : "2e cycle, écoles d'ingénieurs". - Autre tirage : 2001

Bibliogr. p. 597-603. Index
Langues : Français

Catégories :	Chimie
Mots-clés :	Matériaux:effets des rayonnements  Matériaux:analyse  Spectroscopie  Matériaux:structure  Surfaces(technologie):analyse  Microscopie électronique:technique
Index. décimale :	543 Analyse chimique
Résumé :	Traite de l'utilisation de rayonnements particulièrement adaptés pour déterminer la structure et la composition des matériaux : rayons X, électrons, neutrons thermiques et ions.
Permalink :	./index.php?lvl=notice_display&id=10381