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| Titre : | Conception et réalisation d'une commande PID pour phénoménes NBTI | | Type de document : | theses et memoires | | Auteurs : | Mohamed Mouffok, Auteur ; kamal Bennamane, Directeur de thèse | | Editeur : | Tizi Ouzou : UMMTO.FGEI | | Année de publication : | 2011 | | Importance : | 74 p. | | Présentation : | ill. | | Format : | 30 cm. | | Note générale : | bibliogr. | | Langues : | Français | | Mots-clés : | MOS MOSFET NBTI PID PIC 18f4550 Lab view | | Résumé : | C’est dans ce contexte que s’inscrit ce mémoire qui consiste en la conception et la réalisation d’un
dispositif permettant l’accélération du vieillissement des transistors MOS (MOSFETs) encapsulés
par phénomène NBTI.
Dans le premier chapitre nous allons commencer par rappeler les principales caractéristiques
physiques et électriques de la structure MOS et ses différents modes de fonctionnement. Une
brève présentation du diélectrique de grille (SiO2) sera faite.
Le deuxième chapitre sera une introduction à la fiabilité du transistor MOS, un historique retracera
les origines du NBTI ainsi que son évolution au fil des technologies. Les principaux effets du NBTI
sur les paramètres électriques seront exposés. Nous définirons la fiabilité, la durée de vie et la
nécessité de l’accélérer le vieillissement.
L’accélération du vieillissement par la température nécessite un dispositif chauffant et sa conception
fera l’objet du dernier chapitre. En se basant sur une partie de l’outil pédagogique et pratique
abordés tout au long du cursus de formation en ingéniorat nous allons mettre au point une
commande PID numérique pour piloter notre enceinte thermique (plaque chauffante).
Enfin, nous terminerons notre travail par une conclusion et quelques perspectives | | En ligne : | https://dl.ummto.dz/bitstream/handle/ummto/8343/MouffokMohamed.pdf?sequence=1&is [...] | | Format de la ressource électronique : | PDF | | Permalink : | ./index.php?lvl=notice_display&id=26793 |
Conception et réalisation d'une commande PID pour phénoménes NBTI [theses et memoires] / Mohamed Mouffok, Auteur ; kamal Bennamane, Directeur de thèse . - Tizi Ouzou (Tizi Ouzou) : UMMTO.FGEI, 2011 . - 74 p. : ill. ; 30 cm. bibliogr. Langues : Français | Mots-clés : | MOS MOSFET NBTI PID PIC 18f4550 Lab view | | Résumé : | C’est dans ce contexte que s’inscrit ce mémoire qui consiste en la conception et la réalisation d’un
dispositif permettant l’accélération du vieillissement des transistors MOS (MOSFETs) encapsulés
par phénomène NBTI.
Dans le premier chapitre nous allons commencer par rappeler les principales caractéristiques
physiques et électriques de la structure MOS et ses différents modes de fonctionnement. Une
brève présentation du diélectrique de grille (SiO2) sera faite.
Le deuxième chapitre sera une introduction à la fiabilité du transistor MOS, un historique retracera
les origines du NBTI ainsi que son évolution au fil des technologies. Les principaux effets du NBTI
sur les paramètres électriques seront exposés. Nous définirons la fiabilité, la durée de vie et la
nécessité de l’accélérer le vieillissement.
L’accélération du vieillissement par la température nécessite un dispositif chauffant et sa conception
fera l’objet du dernier chapitre. En se basant sur une partie de l’outil pédagogique et pratique
abordés tout au long du cursus de formation en ingéniorat nous allons mettre au point une
commande PID numérique pour piloter notre enceinte thermique (plaque chauffante).
Enfin, nous terminerons notre travail par une conclusion et quelques perspectives | | En ligne : | https://dl.ummto.dz/bitstream/handle/ummto/8343/MouffokMohamed.pdf?sequence=1&is [...] | | Format de la ressource électronique : | PDF | | Permalink : | ./index.php?lvl=notice_display&id=26793 |
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