Etude et comparaison des techniques de caractérisation STM et AFM / Abdelghani Leffed (2003)

Public ISBD Titre : Etude et comparaison des techniques de caractérisation STM et AFM Type de document : theses et memoires Auteurs : Abdelghani Leffed ; Iders Farid TAlmat Rachida ; Mohammed Said Belkaid, Directeur de thèse Editeur : Tizi Ouzou : UMMTO.FGEI Année de publication : 2003 Importance : 81 p. Présentation : ill. Format : 30cm. Note générale : Bibliogr. Langues : Français Mots-clés : STM  AFM  microscopie  Silicium. Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=27472 Etude et comparaison des techniques de caractérisation STM et AFM [theses et memoires] / Abdelghani Leffed ; Iders Farid TAlmat Rachida ; Mohammed Said Belkaid, Directeur de thèse . - Tizi Ouzou (Tizi Ouzou) : UMMTO.FGEI, 2003 . - 81 p. : ill. ; 30cm. Bibliogr. Langues : Français Mots-clés : STM  AFM  microscopie  Silicium. Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=27472

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
ING.ELN.13-03/2	ING.ELN.13-03	Mémoires	Salle d'Archives	Ingénieur en Electronique	Disponible
ING.ELN.13-03/1	ING.ELN.13-03	Mémoires	Salle d'Archives	Ingénieur en Electronique	Disponible

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