A partir de cette page vous pouvez :
author
| Retourner au premier écran avec les étagères virtuelles... |
Détail de l'auteur
Auteur Christian Piguet |
Documents disponibles écrits par cet auteur
Ajouter le résultat dans votre panier Faire une suggestion Affiner la recherche Interroger des sources externesConception des circuits ASIC numériques CMOS / Christian Piguet (DL 1990)
Titre : Conception des circuits ASIC numériques CMOS Type de document : texte imprime Auteurs : Christian Piguet ; Jacques Zahnd André Stauffer Editeur : Paris : Dunod Année de publication : DL 1990 Importance : (XV-200 p.) Présentation : ill., couv. ill. en coul. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-019830-5 Note générale :
Réf. bibliogr. en fin de chapitres. Index
Langues : Français Mots-clés : Circuits intégrés numériques Électronique numérique MOS complémentaires Circuits intégrés à la demande Index. décimale : 621.3815 Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=10524 Conception des circuits ASIC numériques CMOS [texte imprime] / Christian Piguet ; Jacques Zahnd André Stauffer . - Paris : Dunod, DL 1990 . - (XV-200 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 24 cm.
ISBN : 978-2-04-019830-5
Réf. bibliogr. en fin de chapitres. Index
Langues : Français
Mots-clés : Circuits intégrés numériques Électronique numérique MOS complémentaires Circuits intégrés à la demande Index. décimale : 621.3815 Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=10524 Réservation
Réserver ce document
Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité CI452/1 CI452 Livre Magasin d'Ouvrages / FGE Communication instrumentation Consultation sur place
Exclu du prêtCI452/2 CI452 Livre Magasin d'Ouvrages / FGE Communication instrumentation Disponible CI452/3 CI452 Livre Magasin d'Ouvrages / FGE Communication instrumentation Disponible CI452/4 CI452 Livre Magasin d'Ouvrages / FGE Communication instrumentation Disponible CI452/5 CI452 Livre Magasin d'Ouvrages / FGE Communication instrumentation Disponible Les abonnés qui ont emprunté ce document ont également emprunté :
Etude et réalisation pratique d'un testeur de circuits intégrés et de transistors Ait Said, Siham Etude en fiabilité du transistor MOS SOI Chabbi, Taous Caractérisation de la microstructure de défaut dans les dispositifs MOS par la technique SDT (Spin-dependenttunneling) Chamek, Chafia Aucun avis, veuillez vous identifier pour ajouter le vôtre !
