Test des circuits numériques / Couchot, Jean-Christophe (1986)

Public ISBD Titre : Test des circuits numériques : aide à la programmation Type de document : texte imprime Auteurs : Couchot, Jean-Christophe Editeur : Paris : Masson Année de publication : 1986 Collection : Methode + Programmes Importance : 127 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-225-80800-5 Note générale : Bibliogr. p. 127. Index Langues : Français Mots-clés : Circuits intégrés:essais:informatique  Circuits intégrés numériques:qualité:contrôle:informatique  Électronique numérique  Circuits électroniques:essais Index. décimale : 621.395 Note de contenu : Chapitre 1. Panorama des techniques de test Chapitre 2. Générateur de programmes d'aide au dépannage de cartes Chapitre 3. Outils de développement pour programmes de test Chapitre 4. Génération d'organigrammes de test Chapitre 5. Les méthodes de tests go-nogo Chapitre 6. Génération de sous-programme de tests. Contitution d'un dictionnaire de commandes Chapitre 7. Elaboration d'une bibliothèque de tests par composant Chapitre 8. test et conception des cartes numériques Chapitre 9. Système expert pour tests numériques Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=11176 Test des circuits numériques : aide à la programmation [texte imprime] / Couchot, Jean-Christophe . - Paris : Masson, 1986 . - 127 p. : ill. ; 24 cm. - (Methode + Programmes) . ISBN : 978-2-225-80800-5 Bibliogr. p. 127. Index Langues : Français Mots-clés : Circuits intégrés:essais:informatique  Circuits intégrés numériques:qualité:contrôle:informatique  Électronique numérique  Circuits électroniques:essais Index. décimale : 621.395 Note de contenu : Chapitre 1. Panorama des techniques de test Chapitre 2. Générateur de programmes d'aide au dépannage de cartes Chapitre 3. Outils de développement pour programmes de test Chapitre 4. Génération d'organigrammes de test Chapitre 5. Les méthodes de tests go-nogo Chapitre 6. Génération de sous-programme de tests. Contitution d'un dictionnaire de commandes Chapitre 7. Elaboration d'une bibliothèque de tests par composant Chapitre 8. test et conception des cartes numériques Chapitre 9. Système expert pour tests numériques Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=11176

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
ELT79/1	ELT79	Livre	Magasin d'Ouvrages / FGE	Electrotechnique	Consultation sur place Exclu du prêt
ELT79/2	ELT79	Livre	Magasin d'Ouvrages / FGE	Electrotechnique	Disponible

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