Titre :	Contribution to the study and characterization of the Oxide -Silicon interface and the Oxide in MOS Devices
Type de document :	theses et memoires
Auteurs :	Arezki Benfdila
Editeur :	Tizi Ouzou : UMMTO.FGEI
Année de publication :	2000
Importance :	p.
Présentation :	ill.
Format :	30cm.
Note générale :	Bibliogr.
Langues :	Français
Mots-clés :	MOS Physics and technologie  Oxide and Oxide - Semiconductor interface  Charge Pumping Process
Permalink :	./index.php?lvl=notice_display&id=24677

Contribution to the study and characterization of the Oxide -Silicon interface and the Oxide in MOS Devices [theses et memoires] / Arezki Benfdila . - Tizi Ouzou (Tizi Ouzou) : UMMTO.FGEI, 2000 . - p. : ill. ; 30cm.
Bibliogr.
Langues : Français

Mots-clés :	MOS Physics and technologie  Oxide and Oxide - Semiconductor interface  Charge Pumping Process
Permalink :	./index.php?lvl=notice_display&id=24677