Titre :	Etude et modélisation des défauts des circuits intégrés en vue de leur analyse de fiabilité
Type de document :	theses et memoires
Auteurs :	Ghania Ait Abdelmalek ; Rezki Ziani, Directeur de thèse
Editeur :	Tizi Ouzou : UMMTO.FGEI
Année de publication :	2011
Importance :	90 p.
Présentation :	ill.
Format :	30 cm.
Note générale :	Bibliogr.
Langues :	Français
Mots-clés :	Fiabilité  Faute  Défaillance  Tolérance aux fautes  Modélisation  TMR  VLSI.
En ligne :	https://dl.ummto.dz/bitstream/handle/ummto/615/Ait%20abdelmalek%20Ghania.pdf?seq [...]
Format de la ressource électronique :	PDF
Permalink :	./index.php?lvl=notice_display&id=24845

Etude et modélisation des défauts des circuits intégrés en vue de leur analyse de fiabilité [theses et memoires] / Ghania Ait Abdelmalek ; Rezki Ziani, Directeur de thèse . - Tizi Ouzou (Tizi Ouzou) : UMMTO.FGEI, 2011 . - 90 p. : ill. ; 30 cm.
Bibliogr.
Langues : Français

Mots-clés :	Fiabilité  Faute  Défaillance  Tolérance aux fautes  Modélisation  TMR  VLSI.
En ligne :	https://dl.ummto.dz/bitstream/handle/ummto/615/Ait%20abdelmalek%20Ghania.pdf?seq [...]
Format de la ressource électronique :	PDF
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