Etude et modélisation des défauts des circuits intégrés en vue de leur analyse de fiabilité (2011) 
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| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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| Mag.ELN.75-11/2 | Mag.ELN.75-11 | Mémoires | Magasin de Thèses et Mémoires / FGE | Magister en Electronique | Disponible |
| Mag.ELN.75-11/1 | Mag.ELN.75-11 | Mémoires | Magasin de Thèses et Mémoires / FGE | Magister en Electronique | Disponible |
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