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Etude de la fiabilité d'un microcapteur anemometrique en technologie MEMS [theses et memoires] / Amel Sidi Said ; Mourad Laghrouche, Directeur de thèse . - Tizi Ouzou (Tizi Ouzou) : UMMTO.FGEI, 2009 . - p. : ill. ; 30 cm. Bibliogr. Langues : Français
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| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| MAG.ELN.64-09/2 | MAG.ELN.64-09 | Mémoires | Magasin de Thèses et Mémoires / FGE | Magister en Electronique | Disponible |
| MAG.ELN.64-09/1 | MAG.ELN.64-09 | Mémoires | Magasin de Thèses et Mémoires / FGE | Magister en Electronique | Disponible |
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