Titre :	Automatisation d’un banc de caractérisation sur traceur de courbe programmable Tektronix 370A
Type de document :	theses et memoires
Auteurs :	Nassim Amrani, Auteur ; Ahcène Lakhlef, Directeur de thèse
Editeur :	Tizi Ouzou : UMMTO.FGEI
Année de publication :	2014
Importance :	71 p.
Présentation :	ill.
Format :	30 cm.
Note générale :	Bibliogr.
Langues :	Français
Mots-clés :	MOSFET  Composant unipolaire  Miniaturisation  Pompage de charge, Tektronix 370A  LabView  Caractérisation.
Résumé :	Résumé : La recherche des nouvelles performances des semiconducteurs et des nouveaux dispositifs pour une bonne fiabilité, et remplacer le silicium et le MOSFET au silicium va conduire à une nouvelle révolution au sein des industries électronique. La caractérisation des composants électronique est d’une importance capitale pour le développement de l’industrie électronique en général et micro-électronique en particulier. Les objectifs attendus de cette caractérisation sont l’extraction des différentes paramètres afin de comprendre les propriétés électriques et physiques des dispositifs, par l’interprétation d’un bon fonctionnement et de prévoir une long durée de vie. Elle agie sur le développement de la technologie de fabrication, par le bais de développement des outils de modalisation pour une implantation dans les simulateurs. C’est dans ce contexte que se situe ce travail de thèse qui présente la mise en évidence d’une technique de caractérisation statique des MOSFETs en utilisant les techniques I(V) avancées, selon la conception de l’instrument de caractérisation. L’objectif est de contribuer au développement d’un programme sous LabView contrôlant automatiquement le traceur de courbe programmable Tektronix 370A, à travers une communication GPIB. En fin, La réalisation du programme nos a permis d'acquérir une expérience dans le domaine des communications GPIB et la programmation sous labView. En perspective la mise au point d’un banc de caractérisation des MOSFET, nous permettra de mieux cerner les paramètres contrôlant la fiabilité et la sensibilité des composants micros et nanoélectroniques, cela pour bien conduire les nouvelles révolutions de la micro et nanotechnologies.
En ligne :	https://dl.ummto.dz/bitstream/handle/ummto/7368/AmraniNassim.pdf?sequence=1&isAl [...]
Format de la ressource électronique :	PDF
Permalink :	./index.php?lvl=notice_display&id=25427

Automatisation d’un banc de caractérisation sur traceur de courbe programmable Tektronix 370A [theses et memoires] / Nassim Amrani, Auteur ; Ahcène Lakhlef, Directeur de thèse . - Tizi Ouzou (Tizi Ouzou) : UMMTO.FGEI, 2014 . - 71 p. : ill. ; 30 cm.
Bibliogr.
Langues : Français

Mots-clés :	MOSFET  Composant unipolaire  Miniaturisation  Pompage de charge, Tektronix 370A  LabView  Caractérisation.
Résumé :	Résumé : La recherche des nouvelles performances des semiconducteurs et des nouveaux dispositifs pour une bonne fiabilité, et remplacer le silicium et le MOSFET au silicium va conduire à une nouvelle révolution au sein des industries électronique. La caractérisation des composants électronique est d’une importance capitale pour le développement de l’industrie électronique en général et micro-électronique en particulier. Les objectifs attendus de cette caractérisation sont l’extraction des différentes paramètres afin de comprendre les propriétés électriques et physiques des dispositifs, par l’interprétation d’un bon fonctionnement et de prévoir une long durée de vie. Elle agie sur le développement de la technologie de fabrication, par le bais de développement des outils de modalisation pour une implantation dans les simulateurs. C’est dans ce contexte que se situe ce travail de thèse qui présente la mise en évidence d’une technique de caractérisation statique des MOSFETs en utilisant les techniques I(V) avancées, selon la conception de l’instrument de caractérisation. L’objectif est de contribuer au développement d’un programme sous LabView contrôlant automatiquement le traceur de courbe programmable Tektronix 370A, à travers une communication GPIB. En fin, La réalisation du programme nos a permis d'acquérir une expérience dans le domaine des communications GPIB et la programmation sous labView. En perspective la mise au point d’un banc de caractérisation des MOSFET, nous permettra de mieux cerner les paramètres contrôlant la fiabilité et la sensibilité des composants micros et nanoélectroniques, cela pour bien conduire les nouvelles révolutions de la micro et nanotechnologies.
En ligne :	https://dl.ummto.dz/bitstream/handle/ummto/7368/AmraniNassim.pdf?sequence=1&isAl [...]
Format de la ressource électronique :	PDF
Permalink :	./index.php?lvl=notice_display&id=25427