Titre :	Contribution à la réalisation d’une technique pour la cartographie des défauts paramagnétiques dans les matériaux diélectriques utilisés en microélectronique
Type de document :	theses et memoires
Auteurs :	Faredj Hamani ; Ikhebassene Takfarinasse ; Farida Nemmar (ép. Belhocine), Directeur de thèse
Editeur :	Tizi-Ouzou : UMMTO F.G.E.I
Année de publication :	2018
Importance :	64 p.
Présentation :	ill.
Format :	30cm.
Note générale :	Bibliogr
Langues :	Français
Mots-clés :	Micro-électronique  Matériaux diélectriques  Cartographie  Bobine d’Helmholtz  Transistors MOSFET  Paramagnétique  Champ magnétique  Régulateur PID  LabVIEW
Résumé :	La fiabilité des transistors MOSFET au cours du temps a fait l’objet de nombreuses études. Nous avons fait le choix dans notre travail de se focaliser sur la caractérisation de la microstructure des défauts. Les techniques utilisées dans ce travail pour l’identification de microstructures des défauts sont basées sur la résonance paramagnétique électronique (RPE) et appelées Low Field Electrically Detected Magnetic Resonance (EDMR). Dans ce travail nous avons réalisé une technique de cartographie des défauts paramagnétiques et pour cela ona commencé par la conception de la bobine d’Helmholtz qui génèreun champ magnétique maximum de 50.35 Gauss. Le champ magnétique fournit par cette dernière est réglé et contrôlé par un régulateur PID (Proportionnel, Intégral, Drivée) implanté sous LabVIEW. On va utiliserla bobine réalisée pour détecter les défauts dans les matériaux utilisés en micro-électronique (tranche de silicium).
En ligne :	https://dl.ummto.dz/bitstream/handle/ummto/6363/HamaniFaredj_IkhebasseneTakfarin [...]
Format de la ressource électronique :	PDF
Permalink :	./index.php?lvl=notice_display&id=33668

Contribution à la réalisation d’une technique pour la cartographie des défauts paramagnétiques dans les matériaux diélectriques utilisés en microélectronique [theses et memoires] / Faredj Hamani ; Ikhebassene Takfarinasse ; Farida Nemmar (ép. Belhocine), Directeur de thèse . - Tizi-Ouzou (Tizi-Ouzou) : UMMTO F.G.E.I, 2018 . - 64 p. : ill. ; 30cm.
Bibliogr
Langues : Français

Mots-clés :	Micro-électronique  Matériaux diélectriques  Cartographie  Bobine d’Helmholtz  Transistors MOSFET  Paramagnétique  Champ magnétique  Régulateur PID  LabVIEW
Résumé :	La fiabilité des transistors MOSFET au cours du temps a fait l’objet de nombreuses études. Nous avons fait le choix dans notre travail de se focaliser sur la caractérisation de la microstructure des défauts. Les techniques utilisées dans ce travail pour l’identification de microstructures des défauts sont basées sur la résonance paramagnétique électronique (RPE) et appelées Low Field Electrically Detected Magnetic Resonance (EDMR). Dans ce travail nous avons réalisé une technique de cartographie des défauts paramagnétiques et pour cela ona commencé par la conception de la bobine d’Helmholtz qui génèreun champ magnétique maximum de 50.35 Gauss. Le champ magnétique fournit par cette dernière est réglé et contrôlé par un régulateur PID (Proportionnel, Intégral, Drivée) implanté sous LabVIEW. On va utiliserla bobine réalisée pour détecter les défauts dans les matériaux utilisés en micro-électronique (tranche de silicium).
En ligne :	https://dl.ummto.dz/bitstream/handle/ummto/6363/HamaniFaredj_IkhebasseneTakfarin [...]
Format de la ressource électronique :	PDF
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