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| Titre : | Traité des matériaux Vol..3,Caractérisation expérimentale des matériaux , Analyse par rayons X... | | Type de document : | texte imprime | | Auteurs : | Jean-Luc Martin ; Amand Gearge | | Editeur : | Lausanne : P P U R | | Année de publication : | 1998 | | Importance : | 367p. | | Présentation : | ill. | | Format : | 25 cm | | ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-88074-364-2 | | Note générale : | Bibliogr.Index | | Langues : | Français | | Mots-clés : | Matériaux Rayonnement | | Index. décimale : | 620.112 | | Résumé : | Généralités sur les interactions rayonnement-matière
Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux
Propagation d'ondes dans les cristaux
Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X
Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X
Topographie aux rayons X
Microscope électronique à transmission
Informations fournies par le microscope électronique à transmission
Microscope électronique à balayage
Microanalyse par faisceaux d'électrons
Diffusion et diffraction des neutrons
Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermiqueCet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questons d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques.
Sommaire: | | Permalink : | ./index.php?lvl=notice_display&id=13099 |
Traité des matériaux Vol..3,Caractérisation expérimentale des matériaux , Analyse par rayons X... [texte imprime] / Jean-Luc Martin ; Amand Gearge . - Lausanne : P P U R, 1998 . - 367p. : ill. ; 25 cm. ISBN : 978-2-88074-364-2 Bibliogr.Index Langues : Français | Mots-clés : | Matériaux Rayonnement | | Index. décimale : | 620.112 | | Résumé : | Généralités sur les interactions rayonnement-matière
Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux
Propagation d'ondes dans les cristaux
Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X
Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X
Topographie aux rayons X
Microscope électronique à transmission
Informations fournies par le microscope électronique à transmission
Microscope électronique à balayage
Microanalyse par faisceaux d'électrons
Diffusion et diffraction des neutrons
Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermiqueCet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questons d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques.
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