Etude des propriétés de surface de semi conducteurs lamellaires par microscopie à effet tunnel / Mohammed Said Belkaid (s.d.)

Public ISBD Titre : Etude des propriétés de surface de semi conducteurs lamellaires par microscopie à effet tunnel Type de document : theses et memoires Auteurs : Mohammed Said Belkaid ; Sebenne, Guichar, Directeur de thèse Editeur : Tizi Ouzou : UMMTO.FGEI Année de publication : s.d. Importance : 112p. Présentation : ill. Format : 30cm. Note générale : Bibliogr. Langues : Français Mots-clés : Effet Tunel  Microscopie  Théories  Lang  Semiconducteur lamellaires  Silicium Si(111) clive. Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=24676 Etude des propriétés de surface de semi conducteurs lamellaires par microscopie à effet tunnel [theses et memoires] / Mohammed Said Belkaid ; Sebenne, Guichar, Directeur de thèse . - Tizi Ouzou (Tizi Ouzou) : UMMTO.FGEI, s.d. . - 112p. : ill. ; 30cm. Bibliogr. Langues : Français Mots-clés : Effet Tunel  Microscopie  Théories  Lang  Semiconducteur lamellaires  Silicium Si(111) clive. Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=24676

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Doc.01-s.d./2	Doc.01-s.d.	Thèses	Magasin de Thèses et Mémoires / FGE	Doctorat en Electronique	Disponible
Doc.01-s.d./1	Doc.01-s.d.	Thèses	Magasin de Thèses et Mémoires / FGE	Doctorat en Electronique	Disponible

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