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Auteur Samir Meziani |
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Titre : Etude éxpérimentale de la pollution harmonique dans un Réseau Electrique : Cas des lampes fluo-compactes et ordinateurs Type de document : theses et memoires Auteurs : Samir Meziani ; Larbi cherif Ghiles ; Hamza Bessai, Directeur de thèse Editeur : Tizi Ouzou : UMMTO.FGEI Année de publication : 2015 Importance : 54 p. Présentation : ill Format : 30 cm. Note générale : Bibliogr. Langues : Français Mots-clés : Lampes fluo compactes Analyseur de spectre numérique Analyseur de spectre analogique Mesure des harmoniques, TDH Résumé : Dans un réseau électrique, les harmoniques, les déséquilibres de courant et de tension, et les
creux de tension ont des effets néfastes sur les équipements électriques.
Dans ce mémoire on a fait une étude expérimentale de la pollution harmonique dans un réseau
électrique : cas des lampes flou-compactes et ordinateurs
Dans notre travail on a mesurer les courants, tensions et les TDH pour différentes charges
utilisées au laboratoire de réseaux électriques comme les ordinateurs et les lampes basse
consommation à l’aide de l’analyseur de puissance et de qualité d’énergie CA8230
nouvellement réceptionné par le laboratoire.
On peut résumer l’ensemble des résultats qu’on a trouvés dans les points suivant :
. La forme d’onde du courant absorbé par les ordinateurs et les lampes basse
consommations est très déformée.
. Les spectres des courants sont différents pour les deux types de charges.
. En augmentant le nombre de lampes de 1 Ã 6 nous constatons que les TDH en courant
restent pratiquement constant à cause du phénomène du foisonnement.
. En augmentant le nombre d’ordinateurs de 1 à 4 nous constatons que les TDH en
courants varient sensiblement car les machines utilisés diffèrent par leurs puissances
et leurs technologies.
. La forme de la tension du réseau reste pratiquement sinusoïdale dans tous les cas.
Donc on peut conclure que les ordinateurs et les lampes fluo-compactes sont des charges
polluantes avec des TDH de courant très élevés, néanmoins leur impact sur la tension du
réseau est négligeable vu leurs faibles puissances et leur nombre réduit.En ligne : https://dl.ummto.dz/bitstream/handle/ummto/8590/MezianiSamir_LarbiCherifGh.pdf?s [...] Format de la ressource électronique : Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=25615 Etude éxpérimentale de la pollution harmonique dans un Réseau Electrique : Cas des lampes fluo-compactes et ordinateurs [theses et memoires] / Samir Meziani ; Larbi cherif Ghiles ; Hamza Bessai, Directeur de thèse . - Tizi Ouzou (Tizi Ouzou) : UMMTO.FGEI, 2015 . - 54 p. : ill ; 30 cm.
Bibliogr.
Langues : Français
Mots-clés : Lampes fluo compactes Analyseur de spectre numérique Analyseur de spectre analogique Mesure des harmoniques, TDH Résumé : Dans un réseau électrique, les harmoniques, les déséquilibres de courant et de tension, et les
creux de tension ont des effets néfastes sur les équipements électriques.
Dans ce mémoire on a fait une étude expérimentale de la pollution harmonique dans un réseau
électrique : cas des lampes flou-compactes et ordinateurs
Dans notre travail on a mesurer les courants, tensions et les TDH pour différentes charges
utilisées au laboratoire de réseaux électriques comme les ordinateurs et les lampes basse
consommation à l’aide de l’analyseur de puissance et de qualité d’énergie CA8230
nouvellement réceptionné par le laboratoire.
On peut résumer l’ensemble des résultats qu’on a trouvés dans les points suivant :
. La forme d’onde du courant absorbé par les ordinateurs et les lampes basse
consommations est très déformée.
. Les spectres des courants sont différents pour les deux types de charges.
. En augmentant le nombre de lampes de 1 Ã 6 nous constatons que les TDH en courant
restent pratiquement constant à cause du phénomène du foisonnement.
. En augmentant le nombre d’ordinateurs de 1 à 4 nous constatons que les TDH en
courants varient sensiblement car les machines utilisés diffèrent par leurs puissances
et leurs technologies.
. La forme de la tension du réseau reste pratiquement sinusoïdale dans tous les cas.
Donc on peut conclure que les ordinateurs et les lampes fluo-compactes sont des charges
polluantes avec des TDH de courant très élevés, néanmoins leur impact sur la tension du
réseau est négligeable vu leurs faibles puissances et leur nombre réduit.En ligne : https://dl.ummto.dz/bitstream/handle/ummto/8590/MezianiSamir_LarbiCherifGh.pdf?s [...] Format de la ressource électronique : Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=25615 Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité MAST.ETH.16-15/2 MAST.ETH.16-15 Mémoires Magasin de Thèses et Mémoires / FGE Master en Electrotechnique Disponible MAST.ETH.16-15/1 MAST.ETH.16-15 Mémoires Magasin de Thèses et Mémoires / FGE Master en Electrotechnique Disponible Aucun avis, veuillez vous identifier pour ajouter le vôtre !
Etude des paramètres électriques d’un dépôt électrochimique Ni/Cu pour contact métallique d’une cellule solaire / Amayas Ferrat (2024)
Titre : Etude des paramètres électriques d’un dépôt électrochimique Ni/Cu pour contact métallique d’une cellule solaire Type de document : theses et memoires Auteurs : Amayas Ferrat, Auteur ; Aghiles Ben Habouche, Auteur ; Samir Meziani, Directeur de thèse Editeur : Tizi-Ouzou : UMMTO F.G.E.I Année de publication : 2024 Importance : 92p Présentation : ill. Format : Note générale : Bibliogr. Langues : Français Mots-clés : Cellules solaires au silicium Métallisation Dépôt électrochimique Nickel/Cuivre Résistance de contact Résistance carrée Méthode de la Ligne de Transmission Spectroscopie d'Impédance Électrochimique Circuit thermique Siliciure de nickel Ablation laser Interface métal-semi-conducteur Résistance de transfert de charge Barrière de diffusion Diagramme de Nyquist Résumé : Ce mémoire analyse le potentiel des contacts métalliques Nickel/Cuivre (Ni/Cu) déposés par voie électrochimique comme alternative à faible coût pour la métallisation des cellules solaires en silicium.
Après un examen de l'état de l'art des cellules photovoltaïques et des techniques de caractérisation, une étude expérimentale a été menée pour optimiser ce procédé. Les substrats de silicium, recouverts de nitrure, ont été structurés par ablation laser pour définir les motifs de test, mettant en lumière les défis liés à la préparation des surfaces.
Des dépôts de nickel et de cuivre ont ensuite été réalisés et caractérisés via des mesures de résistance carrée, de résistance de contact par méthode TLM, et d'impédance électrochimique (SIE) "à sec".
Une étude comparative de différentes stratégies de recuit (à 350°C) a été conduite. Celle-ci révèle des performances électriques et une intégrité morphologique très contrastées.
Le recuit de la couche de nickel avant le dépôt de cuivre, via la formation d'un siliciure de nickel (NiSi) stable, s'est avéré être la stratégie optimale, réduisant significativement la résistance tout en maintenant une bonne adhérence.
L'analyse par SIE a mis en évidence la complexité des interfaces, notamment une augmentation de la résistance de transfert de charge après recuit, et la présence de boucles inductives liées aux imperfections de surface.
En conclusion, bien que l'électrodéposition Ni/Cu soit une voie prometteuse, des enseignements cruciaux émergent : la nécessité d'un contrôle précis des paramètres de dépôt, l'importance critique de la séquence de recuit pour stabiliser l'interface Si/Ni avant l'introduction du cuivre, et la maîtrise de la morphologie pour assurer la fiabilité mécanique du contact et en faire un véritable levier de réduction des coûts.Diplôme : Master Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=37888 Etude des paramètres électriques d’un dépôt électrochimique Ni/Cu pour contact métallique d’une cellule solaire [theses et memoires] / Amayas Ferrat, Auteur ; Aghiles Ben Habouche, Auteur ; Samir Meziani, Directeur de thèse . - Tizi-Ouzou (Tizi-Ouzou) : UMMTO F.G.E.I, 2024 . - 92p : ill. ; PDF.
Bibliogr.
Langues : Français
Mots-clés : Cellules solaires au silicium Métallisation Dépôt électrochimique Nickel/Cuivre Résistance de contact Résistance carrée Méthode de la Ligne de Transmission Spectroscopie d'Impédance Électrochimique Circuit thermique Siliciure de nickel Ablation laser Interface métal-semi-conducteur Résistance de transfert de charge Barrière de diffusion Diagramme de Nyquist Résumé : Ce mémoire analyse le potentiel des contacts métalliques Nickel/Cuivre (Ni/Cu) déposés par voie électrochimique comme alternative à faible coût pour la métallisation des cellules solaires en silicium.
Après un examen de l'état de l'art des cellules photovoltaïques et des techniques de caractérisation, une étude expérimentale a été menée pour optimiser ce procédé. Les substrats de silicium, recouverts de nitrure, ont été structurés par ablation laser pour définir les motifs de test, mettant en lumière les défis liés à la préparation des surfaces.
Des dépôts de nickel et de cuivre ont ensuite été réalisés et caractérisés via des mesures de résistance carrée, de résistance de contact par méthode TLM, et d'impédance électrochimique (SIE) "à sec".
Une étude comparative de différentes stratégies de recuit (à 350°C) a été conduite. Celle-ci révèle des performances électriques et une intégrité morphologique très contrastées.
Le recuit de la couche de nickel avant le dépôt de cuivre, via la formation d'un siliciure de nickel (NiSi) stable, s'est avéré être la stratégie optimale, réduisant significativement la résistance tout en maintenant une bonne adhérence.
L'analyse par SIE a mis en évidence la complexité des interfaces, notamment une augmentation de la résistance de transfert de charge après recuit, et la présence de boucles inductives liées aux imperfections de surface.
En conclusion, bien que l'électrodéposition Ni/Cu soit une voie prometteuse, des enseignements cruciaux émergent : la nécessité d'un contrôle précis des paramètres de dépôt, l'importance critique de la séquence de recuit pour stabiliser l'interface Si/Ni avant l'introduction du cuivre, et la maîtrise de la morphologie pour assurer la fiabilité mécanique du contact et en faire un véritable levier de réduction des coûts.Diplôme : Master Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=37888 Réservation
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