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Etude des propriétés de surface de semi conducteurs lamellaires par microscopie à effet tunnel / Mohammed Said Belkaid (s.d.)
Titre : Etude des propriétés de surface de semi conducteurs lamellaires par microscopie à effet tunnel Type de document : theses et memoires Auteurs : Mohammed Said Belkaid ; Sebenne, Guichar, Directeur de thèse Editeur : Tizi Ouzou : UMMTO.FGEI Année de publication : s.d. Importance : 112p. Présentation : ill. Format : 30cm. Note générale : Bibliogr. Langues : Français Mots-clés : Effet Tunel Microscopie Théories Lang Semiconducteur lamellaires Silicium Si(111) clive. Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=24676 Etude des propriétés de surface de semi conducteurs lamellaires par microscopie à effet tunnel [theses et memoires] / Mohammed Said Belkaid ; Sebenne, Guichar, Directeur de thèse . - Tizi Ouzou (Tizi Ouzou) : UMMTO.FGEI, s.d. . - 112p. : ill. ; 30cm.
Bibliogr.
Langues : Français
Mots-clés : Effet Tunel Microscopie Théories Lang Semiconducteur lamellaires Silicium Si(111) clive. Permalink : ./index.php?lvl=notice_display&id=24676 Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Doc.01-s.d./2 Doc.01-s.d. Thèses Magasin de Thèses et Mémoires / FGE Doctorat en Electronique Disponible Doc.01-s.d./1 Doc.01-s.d. Thèses Magasin de Thèses et Mémoires / FGE Doctorat en Electronique Disponible Aucun avis, veuillez vous identifier pour ajouter le vôtre !