Méthodes de mesure en compatibilité électromagnétique des circuits intégrés
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Date
2009
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Université Mouloud Mammeri
Abstract
Description
75 f. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)
Keywords
Circuits intégrés, Transistor, Onde électromagnétique, Technologie CMOS, Compatibilité électromagnétique.
Citation
Communication